Оптическое моделирование многослойных структур
Быстрый анализ тонкопленочных многослойных структур. STACK позволяет выявлять эффекты интерференции и микрополостей как при воздействии плоской падающей волны, так и при дипольном освещении, обеспечивая при этом возможность взаимодействия с помощью сценариев. Благодаря использованию аналитических методов расчеты в STACK значительно быстрее, чем прямое моделирование уравнений Максвелла. Возможности Lumerical STACK делают его идеальным решением для быстрого анализа тонкопленочных многослойных структур, таких как антибликовые покрытия, фильтры, OLED и VCSEL.
Возможности ANSYS Lumerical STACK:
- Аналитический решатель STACK
- Взаимодействие с помощью языка сценариев Lumerical, инструментов автоматизации API и Python, MATLAB API
